如何构建一个基于X射线的分析体系

应助达人

这感觉不新鲜啊~
粉体表征不都是XRD XRF QEMSCAN TEM一起用的吗?
布鲁克的EVA软件就是用XRF信息帮助XRD寻相, 用XRD定量分析减去XRF的元素信息获得amorphous的元素信息....

QEMSCANE, SEM/EDS需要用于比较大块(>5微米)的样品, 最好还要树脂包埋抛光才能比较准.

基于SEM/EDS的技术有个特别大的问题是电子束穿透梨形采样体积的问题, 你虽然是在软件上把电子束聚焦到一个particle上, 但你怎么保证所采集的谱不包含周围的particle的信息呢? 特别是当particle小于1微米时....

我一般更相信TEM的EDS, 至少颗粒可以分散得很开~