很多时候我们需要测量薄膜材料或者块状材料的磁导率，我们可以使用环形
线圈阻抗测量的方法间接推导出材料的磁导率，下面简要介绍具有长方形截面的环形线圈阻抗测量及其磁芯磁导率推导方法。
如下图所示的具有长方形截面的环形线圈，图1中线圈包裹的环形材料为我们需要测量磁导率的磁性材料，图2为使用泡沫或者硬纸板制作的与上述磁性圆环一模一样的圆环结构，绕制得到和图1中带有磁性圆环结构线圈一致的线圈。两种结构中具体参数均为圆环内径D1，外径D2，高度h和线圈匝数N。
图1.磁性圆环线圈图 2.泡沫或者硬纸板圆环线圈
先使用阻抗分析仪测得该带有磁性圆环线圈的阻抗为Z=R测+ jwL 测=R0+jwL。其中L为复数，包含有磁能存储和磁能损耗。然后测得带有泡沫或者硬纸板圆环线圈的阻抗为Z0=R0+jwL0。其中L=(uu0hN2/2pi)*Ln(D2/ D1), L0=(u0hN2/2pi)*Ln(D2/ D1),u=u’-ju’’。则可以推出L/L0=u= u’-ju’’和Z= R0+jwL = R0+wu’’L0+jwu’L0 = R测+ jwL 测。最终可以推出u’’=(R测-R0)/( wL0) ,u’=L 测/ L0。
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