话说IEC

应助达人

例:假设 As 是被分析谱线 Cd 228 的干扰物。在该情况下，计算公式如下：
IEC 矫正因子 = Cd 灵敏度 (228) * As 在 228 处的强度/As 浓度
IEC 矫正因子测出干扰物对被分析元素信号变化所做的贡献。因此，用来测试 IEC 矫正因子的被测元素和干扰物浓度的高低并不重要，只要在线性动态范围之内。
分析样品后的计算：
校正后的分析物浓度＝原始计算浓度－干扰物浓度 X IEC 校正因子＝分析物测量波长处测量到的发射强度X由分析物标样得到的分析物灵敏度－干扰物在干扰物测量波长处测得的发射强度X由干扰物标样得到的灵敏度X由干扰物标样得到的 IEC 校正因子

现实测试样品中使用IEC，您有哪些好的经验？

这个我们还比较少用到。

楼主是哪个行业呢？

另外想问问比如说Pb有220和283，也可以类似处理吗？

应助达人

这个是光谱干扰的一种做法，使用过Agilent的用户都知道，做法多，FACT，内标，IEC，SRS，Feited等等