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样品ICPOES谱图由于受到严重干扰,谱峰变形,背景点设置不合理,甚至会出现基线高出积分点,测量强度为负值。此时该如何处理?

ICP光谱

  • 标准溶液的谱图中,背景基线通常是很平整的,但是,实际样品谱图由于受到严重干扰,谱峰变形,如果背景点设置不合理,甚至会出现基线高出积分点,测量强度为负值。在这种情况下给出测量值必然是错误的。有时候特别强的干扰已经使得设置背景点校正基线的方法完全失效了,
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  • JOE HUI

    第1楼2021/07/12

    应助达人

    出现此类情况,该如何做?欢迎讨论

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  • 化学潜行者

    第2楼2021/07/13

    用其他仪器测,或者加标看看,或者多选几个波长

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  • JOE HUI

    第3楼2021/07/13

    应助达人

    可以考虑老师的方法

    化学潜行者(Ins_d4ab5126) 发表:用其他仪器测,或者加标看看,或者多选几个波长

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  • JOE HUI

    第5楼2021/07/16

    应助达人

    手动扣不了咋办

    Insp_808c73ff(Insp_808c73ff) 发表:手动扣背景

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