仪器信息网APP
选仪器、听讲座、看资讯

多样的薄膜如何测量?锁定10月14日马尔文XRD、XRF(X射线)分析分享会!

物性测试综合讨论

  • 会议报名请点击:微观丈量 膜力无限——马尔文帕纳科 X 射线分析技术应用于薄膜测量_网络讲堂_仪器信息网 (instrument.com.cn)

    课程结束参与评价还可以拿电脑包和更多公仔!



    马尔文帕纳科联合仪器信息网将于10月14日举办微观丈量“膜”力无限——X 射线分析技术应用于薄膜测量主题活动,特邀高校资深应用专家及马尔文帕纳科技术专家分享薄膜表征技术与应用干货,全面展示马尔文帕纳科针对薄膜材料测量的解决方案。此外,活动直播间还特别设置了答疑及抽奖多轮福利环节。


    背景介绍:

    薄膜,通常是指形成于基底之上、厚度在一微米或几微米以下的固态材料。薄膜材料广泛应用于不同的工业领域,譬如半导体、光学器件、汽车、新能源等诸多行业。沉积工艺是决定薄膜成分和结构的关键,最终影响薄膜的物性;对薄膜成分、厚度、微结构、取向等关键参数进行测量可以为薄膜沉积工艺的调整和优化提供依据,改善薄膜材料性能。


    活动日程:

    时间 环节报告人
    14:00-14:10开场致词,公司介绍与薄膜应用概述程伟,马尔文帕纳科 先进材料行业销售经理
    14:10-14:50X射线衍射仪在纳米多层薄膜表征中的应用朱京涛,同济大学 教授
    14:50-15:00答疑 & 第一轮抽奖定制马尔文帕纳科公仔一对
    15:00-15:30多晶薄膜应力和织构分析王林,马尔文帕纳科 中国区XRD产品经理
    15:30-15:40答疑 & 第二轮抽奖定制午睡枕
    15:40-16:25X射线衍射及X射线荧光分析技术在半导体薄膜领域的应用钟明光,马尔文帕纳科 亚太区半导体销售经理
    16:25-16:35答疑、课程评价有礼电脑包、公仔1对
    16:35-16:55X射线荧光光谱在涂层镀层分析中的应用熊佳星,马尔文帕纳科 中国区XRF产品经理
    16:55-17:00答疑 & 第三轮抽奖&结束语倍思车载无线充电器



    重要内容抢先看:

    【同济大学,朱景涛教授】将分享X衍射仪在纳米多层薄膜表征中的应用,主要采用掠入射X射线反射、X射线衍射、X射线面内散射等测试方法,表征周期、非周期、梯度多层膜,以及膜层厚度、界面宽度、薄膜均匀性、结晶特性、粗糙度等信息;

    【马尔文帕纳科中国区,XRD产品经理 王林】将分享X射线衍射法测量多晶薄膜的残余应力和织构分析方法;
    【马尔文帕纳科亚太区,半导体销售经理 钟明光】将展示马尔文帕纳科在半导体薄膜领域的专业分析解决方案;
    【马尔文帕纳科中国区,XRF产品经理 熊佳星】将分享X射线荧光光谱在涂层镀层无损分析中的应用。

    专题页面:https://www.instrument.com.cn/topic/malvernpanalytical.html
猜你喜欢最新推荐热门推荐更多推荐
举报帖子

执行举报

点赞用户
好友列表
加载中...
正在为您切换请稍后...