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afm原子力显微镜原理

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2024/10/22

综合仪器讨论

原子力显微镜（AFM）是一种能够实现纳米尺度表面形貌探测的扫描探针显微技术。其工作原理基于一个微小的尖端探针在样品表面轻轻扫描，当探针与表面相互作用时，会产生力的作用，这些力会使附着在细长悬臂上的探针发生偏转或引起悬臂的频率变化。通过精密传感器检测这些变化，并利用反馈系统来维持恒定的力或频率，从而构建出样品表面的三维图像。AFM不仅可以用于观察导电材料，还可以用于绝缘材料，因此在纳米科技、材料科学和生命科学等领域有着广泛的应用。

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