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【讨论】大家讨论一下能谱中的二次电子边问题

XPS及其它能谱仪

  • 在做价带谱的实验研究中,通常会非常关心二次电子边的位置和强度。但在我的仪器上(VG ARUPS10),时常会出现二次电子边起不来的现象,也有同行反映了类似问题,多认为是由于样品接触不好所导致,但我一直觉得还有别的某种未知因素。因为我的仪器有时候会出现连续好几天二次边都起不来的情况,无论我怎么加强样品的接触,消除外电磁场干扰等等。很是不解。
    不知道大家有没有遇到过类似的问题,如何解决的?
    欢迎email写信讨论。我的email:zhangwh@ustc.edu.cn
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  • 内阁大学士

    第1楼2007/06/12

    请问什么是二次电子边?可以说详细点吗?我对于XPS基本上什么也不懂的
    非常感谢了!

    surfphys 发表:在做价带谱的实验研究中,通常会非常关心二次电子边的位置和强度。但在我的仪器上(VG ARUPS10),时常会出现二次电子边起不来的现象,也有同行反映了类似问题,多认为是由于样品接触不好所导致,但我一直觉得还有别的某种未知因素。因为我的仪器有时候会出现连续好几天二次边都起不来的情况,无论我怎么加强样品的接触,消除外电磁场干扰等等。很是不解。
    不知道大家有没有遇到过类似的问题,如何解决的?
    欢迎email写信讨论。我的email:zhangwh@ustc.edu.cn

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  • surfphys

    第2楼2007/06/20

    二次电子即为光电子在益处表面过程中不断发生散射所产生的能量很低的电子,反映在能谱图中就是低动能端高高翘起的二次电子本底。

    jidushouxing 发表:请问什么是二次电子边?可以说详细点吗?我对于XPS基本上什么也不懂的
    非常感谢了!

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  • 好友

    第3楼2007/06/23

    请问surfphys,如何评价二次电子截止边的好坏,如陡峭程度,即能量分辨率?请指教。谢谢!北京师范大学 吴正龙 wuzhenglong36@sina.com。

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  • surfphys

    第4楼2007/06/24

    能量分辨率不应由二次电子边的陡峭程度来衡量,两者之间没有必然联系吧。

    样品和谱仪接触后,由于良好的电接触,两者的费米能级保持平齐。但两者的真空能级会在不能的位置。当样品功函大于仪器功函时,分析器探测到的最低动能为功函之差;当样品功函小于仪器功函时,探测到的最低动能为0,这时候如果要确切知道二次电子边的位置(为了得到全谱宽),必须要在样品上施加一定的负偏压。通常观察到的二次电子截止边都非常陡峭,截止边位置由陡峭边的切线和基线的交点来确定。

    wuzl 发表: 请问surfphys,如何评价二次电子截止边的好坏,如陡峭程度,即能量分辨率?请指教。谢谢!北京师范大学 吴正龙 wuzhenglong36@sina.com。

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  • 好友

    第5楼2007/06/27

    感谢。想再请教,在实际使用时,为什么会见到有的二次电子截止边明显、陡峭,有的则不然?还发现二次电子截止边可能随所加负偏压有关?

    surfphys 发表:能量分辨率不应由二次电子边的陡峭程度来衡量,两者之间没有必然联系吧。

    样品和谱仪接触后,由于良好的电接触,两者的费米能级保持平齐。但两者的真空能级会在不能的位置。当样品功函大于仪器功函时,分析器探测到的最低动能为功函之差;当样品功函小于仪器功函时,探测到的最低动能为0,这时候如果要确切知道二次电子边的位置(为了得到全谱宽),必须要在样品上施加一定的负偏压。通常观察到的二次电子截止边都非常陡峭,截止边位置由陡峭边的切线和基线的交点来确定。

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