【求助】不同型号的能谱仪标配的检测器的类型是什么类型?

我知道三种：
1.单晶锗
2.Si（Li）锂漂移硅
3.SDD
目前锗晶体探测器已经被淘汰，但是锗晶体还是有不少特点：
a：晶体结构好，无需Li填充，分辨率好
b：不能断液氮
Si（Li）是目前应用较广的一类，需要液氮制冷，分辨率不如锗晶体，但是可以短时间断液氮！缺点是工作温度低,液氮制冷时间长，维护麻烦！效率低下！
SDD：是能谱的未来，无需液氮制冷，分辨率超过Si（Li），使用方便，速度快（可达锂漂移硅的10倍以上），免维护，应该在未来的几年里取代锂漂移硅。
缺点是：价格太贵，峰背比略低于锂漂移硅！

请问峰背比略低于Si（Li)是不是因为电制冷的温度高的原因？

P/B比的概念是峰/背比，也就是特征X射线谱峰何韧致辐射本底的比值，这个比值和温度无关，影响这个比值的是入射信号的强度，入射信号越强，特征X射线的谱峰强度增加的同时本底也增加，但是本底增加的比例要高于特征峰，打个简单的比方，如果特征X射线强度从20000提高到30000同时本底从1增加到2，那么峰背比分别为20000/1=20000 和 30000/2=15000 显然是变小的，但是从绝对增加的幅度来看，20000-1=19999 30000-2=29998 后者虽然峰背比较小，但是效率显然更高！
以上是本人的个人理解，可能表达不是很清楚，欢迎大家指正！

再罗嗦一下：您所说的温度影响的是信噪比，和峰背比是两回事：
对能谱来说降低噪音提高信噪比的方法有两种：
1.液氮制冷降低噪音，也就是传统锂漂移探测器使用的方法！
2.从硬件结构设计上改良减小电容，从而达到降低噪音的效果，无需液氮冷却，这就是SDD的提高信噪比的方法，FET和SDD芯片一体的设计（无金导线相连）大大降低了电容，从而提高信噪比！