具有改进的监测和控制的压印光刻术及其设备.pdf

  1. 类别:专利
  2. 上传人:wuyuzegang
  3. 上传时间:2023/4/22 11:21:57
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简介:

一种在压印光刻术处理过程中测量或监测至少一个参数的处理过程,包括如下步骤:提供具有用于压印测试图的表面的模具(方框A);把测试图压印在可塑表面上(方框B);照射测试图(方框C);测量散射、反射、或透射的辐射中的分量,以监测压印的参数(方框D);和可供选择地使用测量的辐射分量,控制处理过程的参数(方柜E)。

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