方案摘要
方案下载| 应用领域 | 石油/化工 |
| 检测样本 | 其他 |
| 检测项目 | 理化分析 |
| 参考标准 | 无 |
在常规XPS分析中，不同的聚合物材料可能会出现测试得到的C 1s谱图相似，较难区分。等离子特征峰（如π-π*跃迁）虽然可提供与材料中的sp2碳杂化相关的信息，但也可能会被其他化学态的碳物种掩盖。本文采用AXIS SUPRA+仪器的X射线光电子能谱（XPS）、紫外光电子能谱（UPS）及反射电子能量损失谱（REELs）联用技术对不同聚合物材料进行了分析。
聚合物大都是由特定的结构单元通过共价键多次重复连接而成，具备多种优良性质，近年来得到了广泛的应用。 由于在这些材料中，C元素往往为重点分析元素，但其某些化学状态的存在，可能会与特征峰（例如π-π*跃迁峰）重叠，故仅通过XPS获得的信息不能满足分析要求，需要结合其他表面分析技术来更深入地了解样品的结构信息。UPS可与XPS一起使用对价带结构进行表征，此外，REELs技术由于其在氢元素测定方面的优势越来越受到研究者的关注，能够与前面两种分析手段相辅相成。
本研究使用XPS，REELs和UPS三种技术分析了不同的聚合物材料，选择了四种具有不同氢含量及价带结构的聚合物用于比较，即高密度聚乙烯（HDPE），聚碳酸酯（PC），聚四氟乙烯（PTFE）和聚偏二氟乙烯（PVDF），分别对比了采用XPS测试的C 1s、UPS He II测试的价带谱以及REELs测试的反射电子能量损失峰结果，由C元素化学状态、价带结构及H元素相对含量说明几种检测手段的差异与辅助性。
文献贡献者
基于AI算法的LC方法开发自动梯度优化
利用DPiMS QT和LCMS-9030进行血液中药物的筛查
使用DPiMS QT及Nexera™ LCMS-9030进行血液中药物的定性/定量分析
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