方案摘要
方案下载| 应用领域 | 石油/化工 |
| 检测样本 | 聚四氟乙烯(PTFE) |
| 检测项目 | 含量分析>成分分析, 微量元素, 有效成分含量 |
| 参考标准 | 无 |
介绍了在X 射线照射后受到损伤的两种有机物的测定事例。 该损伤导致的化学状态或者成分变化对XPS 测定数据的分析带 来重大影响。因此，建议在尽可能低的X 射线功率下进行测定， 但需要注意的是，照射X 射线强度和得到的信号强度成正比
XPS（X 射线光电子能谱法：X-ray Photoelectron Spectroscopy）作为一种表面分析方法，除了对材料表面上约10 nm 处存在的元素进行定性和定量分析外，还可以分析元素的化学结合状态。该方法因为用软X 射线照射样品，观测在物质内部产生的光电子，因此，被称为非破坏性分析。然而，一些物质可能因为被X 射线照射而受到损伤，表面化学状态会发生改变，进一步导致无法从受损的材料表面得到反映其本来状态的正确数据。因此，了解测试过程中样品受到的损伤非常重要。在这里，我们将为您介绍改变X 射线的照射功率，对同一试样进行测定，评估对试样所造成影响的事例
文献贡献者
基于AI算法的LC方法开发自动梯度优化
利用DPiMS QT和LCMS-9030进行血液中药物的筛查
使用DPiMS QT及Nexera™ LCMS-9030进行血液中药物的定性/定量分析
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