MoS2的价带谱分析

2021/11/02   下载量： 0 次

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应用领域 半导体
检测样本 其他
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参考标准 无

二维材料界面的电子结构很大程度上决定了器件的性能，通过XPS与UPS可以对二维材料的价带谱进行研究，本文研究了两者的区别，并分析了导致差异的原因。

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本文通过He II光源与Al Kα X光源对MoS2样品价带谱进行了分析。结果表明，在存在表面污染时，UPS结果与XPS结果存在较大区别，主要原因在于UPS更加具有表面敏感性。通过团簇离子枪对样品表面清洁后，两者结果区别减小，主要差异来源于电离截面导致的峰高差异。


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岛津企业管理（中国）有限公司
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