阴极发光设备(SEM-CL)在光电与薄膜电池材料的针孔检测方面的应用

2023/10/18   下载量: 0

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对于光伏(PV)和薄膜电池(TFB)来说,要在成本上与化石燃料和传统电池竞争,高制造成品率至关重要。CdTe/CdS和CdS/CIGS光伏器件的CdS层以及tbs的LiPON层的针孔导致良率损失和性能降低。扫描电镜(SEM)平面视图分析没有深度分辨率来确定孔是否完全穿透一层。

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       对于光伏(PV)和薄膜电池(TFB)来说,要在成本上与化石燃料和传统电池竞争,高制造成品率至关重要。CdTe/CdS和CdS/CIGS光伏器件的CdS层以及tbs的LiPON层的针孔导致良率损失和性能降低。扫描电镜(SEM)平面视图分析没有深度分辨率来确定孔是否完全穿透一层。

Attolight CL技术的优势在于:


Application-Pinhole-Detection-final-1.jpg


CL通过检测来自底层的光来检测针孔,如下图所示:

Application-Pinhole-Detection-final-2.jpg


下面的SEM图像和CL图显示了该技术在SnO2化学镀液沉积的CdS上的针孔的实际应用。发射图谱如下:

圆对应于单个CL点。圆直径=电子相互作用体积(100 nm@5keV)。


1.png



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