HORIBA PD-Xpadion 光掩膜异物检测装置

HORIBA PD-Xpadion 光掩膜异物检测装置

参考价：面议
型号： PD-Xpadion
产地： 日本
品牌： HORIBA
评分：
核心参数
HORIBA（中国）
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产品详情

PD-Xpadion 是 HORIBA 光掩膜颗粒检测产品线的最新一代产品。基于创新的模块化平台设计，PD Xpadion可以满足光刻和掩膜生产过程中掩膜和薄膜检测的各种需求。通过 Fab 自动化与 HORIBA 的整套核心技术相结合，允许用户扩展 PD Xpadion 系统，不仅包括颗粒检测，还包括通过拉曼分析进行颗粒表征，膜膜厚度和均匀性，以及膜健康监测工具。


产品特色


  • 高机械强健度：平均故障间隔时间高达 1500 个小时；可以保证98%以上的正常运行时间。

  • 高灵活性：可以实现 5 寸到 9 寸的光掩膜扫描；兼容 ASML, NIKON，CANON 等一系列厂商的光罩盒；可以支持不同的光掩膜承载手段。

  • 高性能：可以实现光掩膜三个面的扫面（玻璃面，薄膜面以及图形面）；单面的扫面时间仅需要 4 分钟；标配 0.5 um 的精度；良好的误检过滤算法。

  • 高模块化：可以连接 OHT/EFEM 等自动化设备；可以连接颗粒去除系统（见下图）；可以增加量测手段来实现多种不同应用的表征。

颗粒去除系统.png

颗粒去除系统：RP-1


核心参数


  • 精度规格：0.5 um/0.35 um/0.1 um

  • 吞吐量：12 min/片 （上下两面扫描）

  • 环境光罩尺寸：5寸-9寸

  • 正常运行时间：98%


技术指标


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