MicOS应用于III-V族半导体材料光致发光及微结构检测

2014-02-11 14:45 下载量：11

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1、能与多个激发波长匹配 2、内置数码相机设计，可实时观察样品 3、可提供物镜朝下或物镜侧向的两种配置选择，便于测量侧向发光器件或放置在正置低温恒温器中的样品

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文献贡献者

HORIBA（中国）

白金会员 | 第22年

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