HORIBA | 想实现SEM在纳米尺度下解析材料电化学特性？——耦合CLUE系列光谱仪即可

HORIBA（中国）

2017/11/08 11:21
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如何实现SEM，纳米尺度下深入解析材料电学和化学特性？


  • 氮化物

  • 氧化物

  • IV族半导体

  • 薄膜太阳能电池

  • 荧光粉和矿物

  • 锆石

  • 钙钛矿

  • 稀土元素


耦合CLUE 系列光谱仪，轻松升级SEM阴发光、光致发光和拉曼光谱功能





升级阴发光光谱获取：

  • 提供电学和组成特性

  • 质量控制、失效分析

  • 缺陷杂质、掺杂

  • 污染物和包裹体

  • 锆石的区域分析



升级拉曼光谱获取：

  • 化合物分子鉴定

  • 官能团分析

  • 结晶度和晶格类型

  • 张/压应力变化

  • 自由载流子浓度



助力SEM升级，紧凑的附件——CLUE光谱仪



接口保留扫描电镜的原始配置

快速获得阴发光成像及光谱

低检出限用于微量、杂质和缺陷分析

全光CL探测器，直接由亮度/对比度触摸板控制，

可升级至全谱

全新增强型LabSpec 6软件用于光谱和成像



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HORIBA科学仪器事业部

结合旗下具有近 200 多年发展历史的 Jobin Yvon 光学光谱技术，HORIBA Scientific 致力于为科研及工业用户提供先进的检测和分析工具及解决方案。如：光学光谱、分子光谱、元素分析、材料表征及表面分析等先进检测技术。今天HORIBA 的高品质科学仪器已经成为全球科研、各行业研发及质量控制的首选。

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