在本次讲座中,我们荣幸地邀请到 HORIBA 拉曼应用领域的专家 Thibault Brulé 博士和市场应用专员 Agnès Tempez 博士,他们将为大家重点介绍光致发光显微镜和拉曼显微镜如何应对半导体领域的挑战,还将展示如何将显微光谱与原子力显微镜(AFM)相结合,以实现纳米级分辨率并进一步深化对这些结构的理解。
扫描下方二维码,10 月 17 日 21:00 至 22:00 准时开课!让我们跟随 Thibault Brulé 博士和 Agnès Tempez 博士,探寻光学显微光谱技术在半导体领域的强大应用。
利用拉曼显微光谱技术对半导体材料进行表征
10月17日 21:00-22:00(北京时间)
从事半导体材料开发的科学家
寻找半导体材料表征新方法的科学家
拉曼光谱仪用户
Thibault Brulé 博士
Agnès Tempez
拉曼显微镜能够解决的半导体领域不同挑战
拉曼显微镜为半导体行业带来的市场前景
拉曼显微镜为什么能作为半导体材料表征的理想技术
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