荧光寿命测试技术-时域或频域

2013/02/06   下载量: 22

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荧光寿命与物质所处微环境的性、粘度等条件有关,因此可以通过荧光寿命直接了解所研究体系发生的变化。本文从原理、仪器及应用方面介绍了荧光寿命测量的两种方法-时域、频域。

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文献贡献者

HORIBA(中国)
白金会员第22年
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