MicOS应用于III-V族半导体材料光致发光及微结构检测

2014/02/11   下载量： 14 次

方案摘要

方案下载
应用领域 电子/电气
检测样本 其他
检测项目
参考标准 无

1、能与多个激发波长匹配 2、内置数码相机设计，可实时观察样品 3、可提供物镜朝下或物镜侧向的两种配置选择，便于测量侧向发光器件或放置在正置低温恒温器中的样品

方案下载
配置单
上一篇 荧光光谱+蛋白质检测+荧光特性
下一篇 MicOS应用于微型LED电致发光检测

文献贡献者

HORIBA（中国）
白金会员 丨 第22年
查看全部资料
相关仪器 更多
相关方案
更多

相关产品

当前位置： HORIBA 方案 MicOS应用于III-V族半导体材料光致发光及微结构检测

关注

拨打电话

留言咨询