使用椭圆偏振光谱仪对有机半导体进行光学表征

2016/09/22   下载量： 7 次

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When compared with other optical metrology instruments the unique strengths of spectroscopic ellipsometers are based on their highly precise and simple experimental measurements plus physical and material information derived from optical constants characterization.

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When compared with other optical metrology instruments the unique strengths of spectroscopic ellipsometers are based on their highly precise and simple experimental measurements plus physical and material information derived from optical constants characterization.


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HORIBA（中国）
白金会员 丨 第22年
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