方案摘要
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ChemiSEM技术结合了扫描电镜 (SEM) 和与 X 射线能谱 (EDS)，可简化对金属、陶瓷、电池、涂层、水泥和软材料等多种材料的复杂分析。
更优的用户体验
ChemiSEM通过一个软件系统同时进行SEM和EDS分析，大大减少了新用户学习时间，使得分析更加顺畅，延长了机器的有效机时，在同样的时间里分析更多的样品。
强大的分析性能
ChemiSEM技术可实时自动处理原始信号，生成定量图。对数据进行解卷积，避免出现和峰和重叠峰，并去除背景；全新功能ChemiPhase可以利用实验数据中所有具有统计学意义的谱图对每个独特的相位进行系统性的识别，而不依赖于对样品的预先假设；不仅如此，ChemiSEM技术通过持续监测样本位置，可自动校正样本漂移。
可靠的数据质量
ChemiSEM 技术提供了智能、全自动化的自动 ID 优化、数字峰值拟合和矩阵校正程序，使各类用户都能获得可靠的结果。随着数据的累积，一系列统计验证程序将持续自动对数据进行建模和优化，让用户安心使用。
多样的搭配机器
ChemiSEM技术将来可搭载 Thermo Scientific™ Axia™、Apreo™ 2 和 Quattro™ 扫描电镜，满足不同类型用户的需求。
文献贡献者
小束斑+特色SnapMap快照成像功能分析SnOx成分半导体器件
XPS在半导体材料的应用
使用自动化颗粒工作流程，进行金属中的析出相分析
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