日立 EA8000 X射线异物分析仪_价格-日立仪器（上海）有限公司

日立 EA8000 X射线异物分析仪

参考价：面议

型号：

EA8000

产地：

日本

品牌：

日立

评分：

产品详情

概要：

可快速检测出锂离子可充电电池和燃料电池的电极中可能掺杂的20 μm大小的微小金属异物并进行元素分析。

技术参数：

测量元素	原子序号Mg（12)～U（92)
样品形状	粉体、固体
X射线源	水冷室X射线管球（透射X射线）小型空冷室X射线管球（荧光X射线）
	管电压：15、17.5、20 kV（透射X射线）、45 kV（荧光X射线）
	管电流：1～35 mA（透射X射线）、900 μA（荧光X射线）
X射线照射方向	下方照射型（透射X射线）上方照射型（荧光X射线）
检测器	面型图象传感器（透射X射线） Vortex（荧光X射线）
分析区域	30 mmΦ（透射X射线）
样品观察	高分辨率CCD摄像头
滤波器	4种模式自动切换（荧光X射线）
最大样品尺寸	250(W)×200(D)×0～50(H) mm
仪器尺寸	1380(W)×1042(D)×1785(H) mm
重量	660 kg
电源/额定功率	AC200～240 V(50～60Hz)/1500 VA

特点：

1. 可在几分钟内对250×200 mm的样品检测出20 μm的金属异物

例如要检测250×200 mm（约B5尺寸）的电池电极板中20 μm的金属异物，以往的X射线透视检查仪需要十小时左右的摄像时间。株式会社日立高新技术科学通过新型X射线透视方法的开发，成功缩短了时间。检测速度成功达到了以往的100倍以上，可在3～10分钟内完成

2. 通过图像处理自动检测出异物

针对快速拍摄的250×200 mm的X射线投射图的整面进行快速图像处理，自动检测出异物点。

3. 对于检测出的异物点进行自动元素分析

只针对自动检测出的异物点进行X射线荧光扫描，自动分析元素。

4. 电极板中的微小金属元素也可进行元素识别

对于样品中检测出来的金属异物，自动通过X射线荧光法进行元素识别。例如，以往在检测电极板中可能存在的20 μm左右的微小金属异物，只能分析存在于样品表面的异物。这是由于存在于内部时，由异物产生的荧光X射线会被基材所吸收，信号强度非常微弱。EA8000通过独自研发的高能量X射线光学系统，可对电极、有机薄膜内部所含的20 μm大小的微小金属异物进行元素分析。

5. 一体化操作，提高工作效率

与以往的技术相比，金属异物的检测速度、元素分析速度大幅提高，并且把显微镜等都组合在一台仪器内，各个系统联动可全自动输出测量结果。因此，操作人员只需放置好样品，即可获得测量结果，大大提升了作业效率。

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