热烈庆祝日立仪器（上海）有限公司参加2015 BCEIA

日立仪器（上海）有限公司

2015/10/21 17:15

日立仪器（上海）有限公司参展BCEIA 2015

日立仪器（上海）有限公司参展第十六届北京分析测试学术报告会暨展览会（BCEIA 2015）。第十六届北京分析测试学术报告会暨展览会（BCEIA 2015）在北京国家会议中心开幕。

我们将在现场展示X射线荧光分析仪EA1000VX、EA6000VX及热分析仪器DSC7020、TMA7100。

北京分析测试学术报告会暨展览会(简称“BCEIA”),于1985年经国务院批准，由原中华人民共和国国家科学技术委员会成功举办了第一届，是我国首次举办的分析测试领域的大型国际学术会议和展览会。从2001年开始，由中华人民共和国科学技术部批准，中国分析测试协会主办。历经29年的培育和发展，已成功地举办了十五届。现已成为国内分析测试领域专业化程度和知名度最高的盛会，在促进国际间的科学技术交流，推动我国分析测试科学和仪器制造技术的发展起到了重要作用。

日立仪器（上海）有限公司自2004年11月开始生产X射线荧光分析仪以来，于去年11月迎来了公司成立10周年。

这10年来，我们主要生产和销售测量电镀等金属膜厚的X射线荧光膜厚仪和测量对应RoHS、ELV等的环境限制物质含有浓度的X射线荧光分析仪。

在X射线荧光分析仪方面，我们的设备受到从电子、汽车等微小零部件到大型的线路板等以电镀的膜厚测量为用途的众多客户的信赖。同时为了满足客户更方便的需求，不断推出对应微型化零部件的高性能机种。

在测量环境限制物质方面也同样，推出实现高吞吐量的新产品。也很期待在客户的品质管理上的实现操作时间等的省力化。

2013年1月1日加入到日立集团之后，在「成为高新技术解决方案领域的全球一流企业为目标」的日立高新集团的企业愿景下，以期不断提高设备品质及充实产品线。

今后我们会继续通过分析仪器、测量设备的生产、销售，以成为能够为社会作贡献的集团为目标，全体员工团结一致努力进取。

阅读424次

关注

上一篇日立发售X射线荧光镀层厚度测量仪的新产品「FT150系列」

下一篇日立X射线膜厚测量仪FT-110对汽车电子连接器的镀层厚度的管理