参展第26届中国国际电子电路展览会（CPCA SHOW 2017）

日立仪器（上海）有限公司

2017/02/14 13:44

CPCA展览会是每年度在中国举办的电子电路行业中最具有影响力的专业展览会。无论是在展览会的规模、参展商的知名度，还是行业的认知度和观众数量方面，CPCA展览会都名列前茅。上届CPCA更是展现了中国电子电路行业保持持续,健康发展的美好前景,体现了中国电子电路行业做大做强的坚定信心!

为了发掘新客户及强化与老客户的关系，我司近几年连续参展CPCA展览会，介绍主推产品以及新产品。今年为了给每位听众提供更广泛的市场与技术信息，我司扩大往年的参展规模。出展仪器从去年的4台扩大为9台、室内空地从9平方米扩大为54平方米。欢迎各位莅临我司展台进行更多的技术交流。

CPCA概要

名称：第26届中国国际电子电路展览会（CPCA SHOW 2017）

主办：中国印制电路行业协会（CPCA）

上海颖展展览服务有限公司

日期：2017年3月7日（星期二）~9日（星期四）

展馆：国家会展中心（上海）7.1馆

地点：上海市青浦区盈港东路１６８号（近２号线徐泾东站，南门）

展位：7D51

入场费：免费

官网：http://www.ying-zhan.com/information.asp

出展仪器

元素分析- FT150

FT150斜セット.jpg

使用新开发的X射线光束用多毛细管的产品阵容诞生了。另外，

以X射线检测结构为中心，对各类元件进行最优化，从而大幅度

提高了检测灵敏度，在不损失检测精度的前提下实现了高处理能力。

并且，对设备进行了重新设计，使得样本室的使用，以及对检测点

的检查变得更为容易。

产品详细说明连接：

http://www.hitachi-hightech.com/hig/product_detail/?pn=ana-ft150

相关连接：（PCB及电子部件镀层厚度管理解决方案）

http://www.hitachi-hightech.com/hig/products/science/tech/ana/c-thickness/xrf/

元素分析-FT110A

自1978年以来取得傲人销量的X射线荧光镀层厚度测量仪的

第八代新产品FT110A。在测量精度、操作性能、软件上都有新的

优化。

产品详细说明连接：

http://www.hitachi-hightech.com/hig/product_detail/?pn=ana-ft110

相关连接：（PCB及电子部件镀层厚度管理解决方案）

http://www.hitachi-hightech.com/hig/products/science/tech/ana/c-thickness/xrf/

元素分析-EA1000AIII

12 EA1000AIII_L.jpg

通过将可选项的精度管理软件进一步升级，并使成为标准配置，

实现了低价格化。与以往的机型（SEA1000AII）相比较，平均

检测时间缩短至1/3。材料辨识功能、清晰易懂的操作版面等

易用性也大大提高。

产品详细说明连接：

http://www.hitachi-hightech.com/hig/product_detail/?pn=ana-ea1000aiii

相关连接：（X射线荧光分析仪的六大特点）

http://www.hitachi-hightech.com/hig/products/science/tech/ana/xrf/xrf-list/index.html

元素分析-EA1000VX

对应环境限制物质管理、可快速且简单测量有害物质的

X射线荧光分析仪。

产品详细说明连接：

http://www.hitachi-hightech.com/hig/product_detail/?pn=ana-ea1000vx

相关连接：（X射线荧光分析仪的六大特点）

http://www.hitachi-hightech.com/hig/products/science/tech/ana/xrf/xrf-list/index.html

元素分析-EA6000VX

对于管理基板整面上的有害物质,以及针对微小部位的测定等

以前的装置对应比较困难的要求,EA6000VX都能做到。

产品详细说明连接：

http://www.hitachi-hightech.com/hig/product_detail/?pn=ana-ea6000vx

相关连接：（EA6000VX的特长及测量案例）

http://www.hitachi-hightech.com/hig/products/science/tech/ana/xrf/ea6000vx/index.html

物理分析-DSC7000X

差示扫描量热仪(DSC)产品群中的最高性能机型.搭载了「新型传感器」

和「新型炉体」。多重热电偶设计,使灵敏度提升3倍(与本公司传统

产品相比);三层绝热壁与优化的热冷构造设计,有效控制了DSC基线变动。

产品详细说明连接：

http://www.hitachi-hightech.com/hig/product_detail/?pn=ana-dsc7000x

相关连接：（高灵敏度差示扫描量热仪DSC7000X的特点）

http://www.hitachi-hightech.com/hig/products/science/tech/ana/thermal/sp_dsc7000x/index.html

物理分析-STA7300

3_ STA7300_hs_L.jpg

热重-差热同步热分析仪(TG/DTA)产品群的最高性能机型。高灵敏度的

水平差动式天平设计及先进的数字化控制技术,使得TG基线的稳定性

得到提高。能够准确地检测出μg及变化的TG/DTA。

产品详细说明连接：

http://www.hitachi-hightech.com/hig/product_detail/?pn=ana-sta7000

相关连接：（热分析TA7000系列的测量案例）

http://www.hitachi-hightech.com/hig/products/science/tech/ana/thermal/sp_ta7000/index.html

物理分析-TMA7100

与传统的TMA相比，灵敏度提高了2倍。由于采用无形状制约

全膨胀方式，因此无论是薄膜或碎片样品均可测定。另外，只须

更换探针就可以完成压缩，针入，拉伸等不同的测量模式。多样

选择的冷却系统，将便利性和高精度测定结合在一起。

产品详细说明连接：

http://www.hitachi-hightech.com/hig/product_detail/?pn=ana-tma7000

相关连接：（热分析TA7000系列的测量案例）

http://www.hitachi-hightech.com/hig/products/science/tech/ana/thermal/sp_ta7000/index.html

物理分析-DMA7100

动态热机械分析仪，是通过使固体样品发生弯曲、拉伸、剪切等形变，

根据其变化量及反应滞后时间来测定样品的弹性率及tanδ。

此款设备能够以高灵敏度测量一般热分析方法无法测量的

高分子材料的局部松弛等。

产品详细说明连接：

http://www.hitachi-hightech.com/hig/product_detail/?pn=ana-dma7100

相关连接：（热分析TA7000系列的测量案例）

http://www.hitachi-hightech.com/hig/products/science/tech/ana/thermal/sp_ta7000/index.html

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