X射线荧光镀层膜厚分析仪FT150 -软件概要-

2016/04/25   下载量： 2 次

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参考标准 GB/T16921-2005

X射线荧光镀层厚度测量仪作为一种可高速、简便地对电子零件等的镀层，半导体工艺中的薄膜，以及汽车部件中各类工业产品表皮膜等的膜厚进行管理的仪器而被广泛应用。 　FT150利用多毛细管所产生的照射直径为30 μm的高强度X射线光束，最适于测量微小连接器、柔性电路板及导线架等微小零件及超薄镀层。

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配置单
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文献贡献者

日立仪器（上海）有限公司
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