利用FT150h测量陶瓷芯片部件中Sn/Ni 双层膜

2016/05/16   下载量： 6 次

方案摘要

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应用领域 电子/电气
检测样本 电子/电气
检测项目
参考标准 GB/T16921-2005

FT150h配备了新型聚光光学系以及升级后的Vortex?检测器，对于从前机种难以测量的微小范围，实现了同时高精度测量更厚的Sn与它下面的Ni，此份资料中介绍了针对陶瓷片式原器件的疑似样品，Ag上的Sn/Ni双层膜的同时测量的案例。

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配置单
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文献贡献者

日立仪器（上海）有限公司
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