型号: | HEMS |
产地: | 英国 |
品牌: | NanoMagnetics |
评分: |
|
价格电议
HEMS 霍尔效应测量系统
上海伯东英国 NanoMagnetics 仪器 HEMS 霍尔效应测量系统, 多样品实验, 非常适合材料研究等应用.
HEMS 霍尔效应测量系统特点
多样品实验, van der Pauw 4接触点 ; Hall Bar 6接触点
广泛的材料: GaAs, lnP, lnAs, Si, Ge, SiGe, HgCdTe, GaN, SiC, AIN, 金属氧化物和有机导体
非常适合于材料研究, 产品开发和质量控制
样品电阻率, 电阻率, 霍尔系数, 霍尔迁移率, 载流子浓度或电流电压特性
Windows 操作系统用于系统操作, 数据采集和分析
HEMS 霍尔效应测量系统可以测量
移动测量
载流子测量
电阻率测量
Van der Pauw 测量
Hall Bar 测量
HEMS 霍尔效应测量系统极帽
可调极帽
25mm 面钻
连续可调 0-1, 30mm 的极隙
可选 50mm, 75mm 更大的钻心
电磁铁:
±2.ST@ I 0mm 间隙与 25mm 杆面
±35V, ±70A 线圈
磁场 > ±IT @ 25mm 极隙
磁场强度高, 磁极间距大
串联线圈电阻: 0.5 0 ( 20℃ )
水冷
HEMS 霍尔效应测量系统样品台:
弹簧加载设计选项
Van der Pauw 设计测量
四、六、八触点厅杆测量设计
容易安装样品与弹簧销
多个样品安装
上海伯东英国 NanoMagnetics 仪器 HEMS 霍尔效应测量系统, 多样品实验, 非常适合材料研究等应用.
相关产品
inTEST 热流仪 5G 通讯模块高低温冲击测试
聚丙烯 PP膜等离子表面亲水改性设备
气体和液体过滤介质用低压等离子表面处理设备
微控制器 MCU 芯片高低温测试机,美国 inTEST 热流仪
美国 inTEST 汽车芯片用高低温测试机,热流仪
功率器件高低温冲击测试机,美国 inTEST 热流仪
PMMA 亚克力板等离子表面活化机
IBF 离子束抛光工艺用考夫曼离子源
IBAD 辅助镀膜用考夫曼离子源
LED-DBR 辅助镀膜用离子源
上海伯东美国 KRi 大面积射频离子源 RFICP 380
上海伯东美国 KRi 霍尔离子源 eH 3000
上海伯东美国 KRI 霍尔离子源 ,霍尔源eH 2000
上海伯东美国 KRI 霍尔离子源 eH 1000
KRI 霍尔离子源, 霍尔源,eH 400
关注
拨打电话
留言咨询