电子元器件产品可靠性测试检测 | inTEST 安全芯片高低温冲击测试-伯东公司德国普发真空pfeiffer

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应用领域	电子/电气
检测样本	电子元器件产品
检测项目	可靠性测试
参考标准	/

上海伯东美国 inTEST 冷热冲击机可与爱德万 advantest, 泰瑞达 teradyne, 惠瑞捷 verigy 等测试机联用, 进行安全芯片的高低温冲击测试. 实时监测安全芯片的真实温度，可随时调整冲击气流, 对测试机平台 load board 上的安全芯片进行快速温度循环冲击, 传统高低温箱无法针对此类测试.

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配置单

伯东 inTEST ThermoStream 热流仪高低温测试机
型号：ThermoStream ATS-535

¥20万 - 50万
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inTEST 安全芯片高低温冲击测试
上海伯东美国 inTEST 冷热冲击机可与爱德万 advantest, 泰瑞达 teradyne, 惠瑞捷 verigy 等测试机联用, 进行安全芯片的高低温冲击测试. 实时监测安全芯片的真实温度，可随时调整冲击气流, 对测试机平台 load board 上的安全芯片进行快速温度循环冲击, 传统高低温箱无法针对此类测试.

安全芯片多用于银行卡, 门禁卡及物联网中, 由于受到工作空间狭小, 芯片接触面积小, 空气流通环境差, 散热的条件不好等影响,芯片表面可能会经历快速升温, 并且需要在高温的环境中长时间工作; 同时实验室也会搜集一些芯片的高低温运行的数据做留存资料.所以测试安全芯片在快速变温过程中的稳定性十分必要.

上海伯东安全芯片高低温测试客户案例:某半导体公司,安全芯片测试温度要求 ﹣40℃～105℃, 选用 InTEST ATS-545 与泰瑞达测试机联用, 对安全芯片进行快速冷热冲击, 设置 12组不同形式的循环温度设定,快速得到完整精确的数据.

示意图

inTEST 安全芯片高低温冲击测试

inTEST ThermoStream ATS-545 技术参数:

型号	温度范围 °C	* 变温速率	输出气流量	温度精度	温度显示分辨率	温度传感器
ATS-545	-75 至 + 225(50 HZ) -80 至 + 225(60 HZ) 不需要LN2或LCO2冷却	-55至 +125°C 约 10 S 或更少 +125至 -55°C 约 10 S 或更少	4 至 18 scfm 1.9至 8.5 l/s	±1℃ 通过美国NIST 校准	±0.1℃	T或K型热电偶

若您需要进一步的了解详细产品信息或讨论 , 请参考以下联络方式 :

上海伯东 : 罗先生台湾伯东 : 王小姐

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文献贡献者

伯东公司德国普发真空pfeiffer

金牌会员丨第17年

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