光电器件null检测 | 上海伯东 inTEST ATS-710E 用于功率器件测试-伯东公司德国普发真空pfeiffer

方案摘要

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应用领域	半导体
检测样本	光电器件
检测项目
参考标准	/

国内某知名企业应用于MOSFETMOS管、场效应管、TO封装等器件的高低温冲击测试，要求温度范围-50℃~150℃，且要求对单独器件进行高低温测试，经上海伯东推荐采用美国inTEST高低温测试机ATS-710E搭配测试机进行系列测试。

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配置单

inTEST 高低温冲击热流仪 ATS-710E
型号：inTEST ATS-710E

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方案详情

功率半导体器件普及到生活中的每一个角落，随着应用环境的复杂多样化，功率半导体器件在使用过程中常常出现失效，较为普遍的一种失效是由温度导致失效，器件工作时，温度过高与失效率呈指数形式不断增长，其对器件的结构及电性参数的损坏不断加剧。

国内某知名企业应用于MOSFETMOS管、场效应管、TO封装等器件的高低温冲击测试，要求温度范围-50℃~150℃，且要求对单独器件进行高低温测试，经上海伯东推荐采用美国inTEST高低温测试机ATS-710E搭配测试机进行系列测试。

inTEST 高低温测试机的主要作用就是为功率半导体器件提供实时的温度环境，通过将功率产品连接接到专用信号检测仪, 设定需测试的温度如 -50℃ 至 150℃ , 在进行高低温冲击测试中,实时监控如电流、运行频率,功耗等特性。另外也通常会持续采用低温、常温及高温循环，检测器件是否会出现短路或断路，从而确保器件允许的高低环境等。

Temptronic ThermoStream ATS-710E-M 高低温测试机，温度测试范围：-80°C 至 +225°C，每秒可快速升温/降温 18°C，与传统高低温试验箱对比，inTEST ThermoStream 高低温测试机主要优势：
1、变温速率更快
2、温控精度：±1℃；
3、实时监测待测元件真实温度，可随时调整冲击气流温度
4、针对PCB电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块)，可单独进行高低温冲击，而不影响周边其它器件
5、对测试机平台load board上的IC进行温度循环 / 冲击；传统高低温箱无法针对此类测试。
6、对整块集成电路板提供精确且快速的环境温度。

上海伯东是德国 Pfeiffer 真空设备, 美国 KRI 考夫曼离子源, 美国Gel-pak 芯片包装盒, 美国 inTEST 高低温冲击测试机，日本 NS 离子蚀刻机, 比利时 Stratasys 3D 打印机, 比利时原装进口 Europlasma 等离子表面处理机和美国 Ambrell 感应加热设备等进口知名品牌的指定代理商 .我们真诚期待与您的合作!

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上海伯东: 罗女士

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文献贡献者

伯东公司德国普发真空pfeiffer

金牌会员丨第17年

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