近红外光谱快速评估软质面粉的质量参数

2013/11/27   下载量: 43

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应用领域 食品/农产品
检测样本 小麦粉
检测项目 理化分析>物理性指标
参考标准 国际ISO 方法

利用FT-NIR 光谱仪,搭载简单的样品测量附件,采用漫反射测量模式,在10000-4000cm-1范围内快速获得准确度与标准方法一致的数值。因而可以利用近红外光谱来对每一批次的面粉质量进行快速评价。

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