【新闻资讯】见证中国电镜技术新进展|中镜科仪亮相“2023年度北京市电子显微学年会”

2023年12月17日，“2023年度北京市电子显微学年会”在北京成功举办，由北京理化分析测试技术学会电子显微学专业委员会主办。此次会议旨在提升北京及周边省市电子显微学的学术和技术水平，促进电子显微学工作者在材料科学、生命科学等领域的应用、发展和交流。会议邀请了多位专家学者进行先进的电子显微学报告，同时多家仪器厂商也介绍了最新仪器设备和相关应用技术进展。中镜科仪应邀出席了本次年会，并展现了国产品牌的最新成果与技术创新水平。

韩华研究员首先详细讲解了微观脑连接图谱的三维电镜技术进展，他指出，随着科技及理论的不断创新发展，电镜技术也在日益精进。接着，他介绍了面向切片阵列的三维电镜高通量成像技术，该技术可实现跨平台的电镜切片阵列智能化成像和成像质量质量检测与反馈，为生物医学等领域的研究提供了一个更为准确、高效的路径。这一技术的出现，无疑将推动相关领域的研究取得更为显著的进展。

报告初，孙飞研究员指出，目前我国整体高端科学仪器产品进口率超70%，随着一批核心技术、一批科研机构被美国列入管制名单，严重影响了我国科研创新能力的发展。因此，亟需探索高端科学仪器国产化。近年来我国科研工作者、仪器企业等在扫描电镜、冷冻电镜、透射电镜行业不断取得技术突破，未来有望持续突破海外厂商垄断。 

孙飞研究员团队在电镜关键技术装备研发方面也取得了重要进展，从30kV开始，到突破关键部件（120kV）再到向整机研制进发，成功突破了高压场发射电子枪技术、高稳定高压电源技术、100kV电磁透镜组系统等关键核心技术。 

最后他提出我国要实现高端科学仪器的自主研制，应该从核心技术、关键部件、整机研制三个层面切入，整合全国力量，统筹经费投入和项目布局；其次应形成产学研相互结合、相互促进的态势；最后应重视人才的培养，开设相关课程和专业，为高端仪器自主研制可持续发展储备人才。

先进TEM表征技术对于研究离子、中子、电子辐照产生的晶体缺陷具有举足轻重的作用，利用TEM分析技术可以对辐照位错环柏氏矢量、间隙空位特性、位错以及空洞尺寸数密度等进行分析，也可以对辐照产生的成分偏析、相变等进行分析，从而理解辐照损伤产生的机理。 

原位辐照+TEM表征技术对于理解辐照损伤产生的动态过程具有重要意义，利用原位离子辐照技术可以快速获得不同辐照温度、剂量等条件下的辐照损伤情况；此外可以对辐照损伤产生的实时过程和机理进行理解分析。

四维电子能量损失谱技术（4D-EELS）是基于扫描透射电子显微镜的角分辨、并行电子散射探测方案的一种测量技术。它能够实现空间、动量、能量的同时分辨，其空间分辨能力提升了约5个数量级，并且更便利、高效。这一技术的应用为纳米科学研究提供了新的有力工具，未来随着技术的不断发展，它的应用领域将进一步扩大。

4D-STEM技术以其卓越的空间分辨率、时间分辨率以及单电子灵敏度，为材料微观结构的精确表征提供了强有力的手段。报告中，结合实际案例，详细地阐述了该技术在不同领域的广泛应用，展示了其在科学研究和技术创新中的重要地位。

孙异临研究员结合自身丰富的临床经验详细解答了如何做好一名超微病理医生。首先要具有扎实的医学基础和丰富的临床经验，对准备诊断的病理标本的组织学、解剖学等超微结构特点要了如指掌，并了解该病例患者的临床资料，全方位综合考虑，才能做出正确的电镜诊断结论。其次要熟悉生物电镜标本制备技术，严谨、细致的把好每一关，苛求把每例标本都做成精品。最后要熟练操作和使用电镜仪器设备，只有精益求精，将每一个步骤都尽可能做到极致，才能成为一名合格的电镜病理诊断医生。

会议期间，中镜科仪凭借出色的研发创新能力和优异的产品性能，吸引了众多参会专家和学者的广泛关注，充分展示了国家级高新技术企业的实力和价值。中镜科仪将始终坚持提升科技创新能力，加大研发投入，不断突破核心技术，为广大用户提供更优质、更便捷的产品和服务。