各种薄膜的膜厚测定—UV

2011/07/29   下载量: 28

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应用领域 电子/电气
检测样本 其他
检测项目 物理性质>其他
参考标准 /

■说明 测定物质的膜厚有各式各样方法,而用紫外,可见分光光度计,可进行简单的无损测定。本文探讨了用紫外、可见分光光度计可测定多少厚度的膜厚。 用分光光度计测定,膜的表面和里面的反射光互相干扰,得到波动的干涉光谱。厚度可计算在一定波长范围内的光谱上的波数而求出(但需有膜物质的折射率)。 膜越薄,光谱上的波数越减少,越厚越增加。这次测定了薄膜和厚膜的界限。 …… 纳锘仪器 做为岛津公司上海地区授权代理商,向您提供全方位的服务

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测定物质的膜厚有各式各样方法,而用紫外,可见分光光度计,可进行简单的无损测定。本文探讨了用紫外、可见分光光度计可测定多少

厚度的膜厚。

用分光光度计测定,膜的表面和里面的反射光互相干扰,得到波动的干涉光谱。厚度可计算在一定波长范围内的光谱上的波数而求出

(但需有膜物质的折射率)。膜越薄,光谱上的波数越减少,越厚越增加。这次测定了薄膜和厚膜的界限。

……


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