晶圆/硅片划遗线检测/统计Slip Finder
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晶圆/硅片划遗线检测/统计Slip Finder

参考价：面议
型号： YIS-200SP/YIS-300SP/YIS-200HM/YIS-300HM
产地： 美国
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赛伦科技
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产品详情

晶圆/硅片划遗线检测/统计slip finder广泛应用于各大半导体FAB，主要用于如下一些热处理工艺后的晶圆/硅片：

Polishing, Epitaxy, RTP, Diffusion, Incoming Inspection, SOI, Anneal

部分客户参考如下：

国内主要大客户有如：中芯国际，先进半导体，华宏半导体，成都德州仪器等等。


MEMC
 
S.E.H
 
SUMCO
 
IBM
 
KOMATSU
 
LG
 
OKMETIC
 
MAXIM
 
PHILIPS
 
MOTOROLA
 
DISCO
 
MITSUBISHI
 
TOSHIBA
 
SAMSUNG
 
SONY
 
ST MICRO
 
TEXAS INSTRUMENTS
 
HITACHI
 
IBIS
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美国赛伦科技上海办事处
吴惟雨


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