| 型号： | TLM ContactSpot |
| 产地： | 美国 |
| 品牌： | |
| 评分： |
|
TLM 法接触电阻测量仪器，由于TLM法规定了测量样片必须激光分割成细小条状，为破坏测试，所以TLM测量主要用于新工艺与浆料变化情况下的测量，不适用于大量用于生产过程中的测量，因此无需自动化平台。
测量接触电阻率 / 测量栅电极线电阻
● 优化太阳能电池性能
● 研发实验
● 工厂产品质量控制
● 为电池网络模拟提供精确数值
● 金属栅格线测量
● 与硅的接触电阻率（mW-cm2）
● 线电阻（mW/cm）
● 栅格线间方块电阻（W/square）
● 单次测试时间< 30 秒，包括样品放置与对齐
● 10个电流注入与10个电压测量探针
● 带屏幕显示与x-theta调节的显微镜可快速对齐样品
● 与手动式接触电阻测量相比的优势
● 更快的测试时间
● 更一致的测试结果
● 不会被室内光线影响
● 沿测试片图形化的测量结果
● 自动数据分析
● 先进的分析算法
相关产品
NADAtech wafer Sorter
Hitachi+S4700+SEM
晶圆/硅片划遗线检测/统计Slip Finder
美国Gaertner椭偏仪/膜厚测量仪/Ellipsometer
扩散炉/LPCVD/diffusion and LPCVD Furnace
FSM128非接触薄膜应力测试
MTI 硅片几何参数（厚度，TTV，Bow，Warp）
美国Mactronix硅片倒片机(半导体FAB专用)
WEP,ECV PN结深度测试仪/扩散浓度分布)
美国AST椭偏仪
CV仪/汞探针(美国四维公司)Four Dimensions,Inc.(4D)
进口四探针电阻率测试仪(4PP)/方块电阻测试仪
工商信息
信息已认证
关注
拨打电话
留言咨询
