BH V|tome|x L 300 高精密大型微/奈米CT系統

BH V|tome|x L 300 高精密大型微/奈米CT系統

参考价:面议
型号: V|tome|x L 300
产地: 美国
品牌: 贝克休斯(原美国GE)
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产品详情

主要功能

  • 單極300kV的射線管設計(在焦點和樣品大小之間有5mm的距離),極高的放大倍率可用於高吸收率的樣品之定量、非破壞式檢測

  • 可選配180kV/15Wnm焦點射線源

  • 高對比度平板探測器,2048x2048像素

  • 基於花崗岩基座的高精度,高穩定度機械系統

  • 高精度3D測量軟體,不僅可進行幾何量測,具有極高精度、高再現性,而且使用方便

  • 鋼鐵零件和大型鋁鑄件可進行缺陷辨別和可再現的3D測量

  • 2D X射線檢測和3D電腦斷層掃描(micro CT and nano CT) 模式之間可輕鬆轉換,細部分辨率可達1µm


效益特點:

  • 廣泛應用於不同樣品而無需改變X射線管

  • 通過高動態溫度穩定的GE DXR數位探測器獲取的30 FPS和菱形窗口(可選配)的快速CT採集和清晰的影像

  • 通過 VELO | CT在幾秒鐘或幾分鐘內(取決於體積大小)完成更快的3DCT重建

  • 用點擊&測量|CT進行高精度且可重現的3D測量,使用datos | X 2.0 - 在少於1小時之內自動生成首件檢測記錄是可能的

  • 高達10倍的增加的燈絲壽命,通過長壽命的|燈絲(可選)確保了長期穩定性和最佳系統效率


■ 複雜的渦輪葉片鑄件可利用3D精確地分析故障部位

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■ 玻璃纖維和礦物填料(紫色)的凝聚體的方位和分佈都清晰可見。 纖維寬度大約為 10 µm

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■ 透過3D檢測可以顯示整體的內部狀況

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■ 對氣缸蓋的3D測量

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■ 鋁鑄件的3D微焦點電腦斷層掃描(micro ct)含有一些空隙率

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