型号: | JMS-T2000GC AccuTOF GC-Alpha |
产地: | 日本 |
品牌: | 日本电子 |
评分: |
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应用领域: |
共5个
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高灵敏度检测极限:IDL = 18.7 fg | 宽幅质量范围:〜m / z 6,000 |
Mass separation of m/z 28 高质量解析力:30,000 |
高质量精度:1 ppm |
高速数据采集:50 Hz 提供绝佳GCxGC及Fast GC应用 |
大宽幅动态分析范围:4级数 |
单一离子源,具有EI(硬性离子源)和FI / FD(软性离子源)技术,可自动快速切换EI和FI / FD模式。
特征
FI和FD是极软性的游离化技术,与EI甚至CI相比较,提供分析物的能量更低,从而产生清晰的分子离子。
FI(场离子化)
• 样品通过GC或标准样品入口系统引入离子源。
• 与CI不同,FI不使用反应气。
• 无需选择适合分析物的反应气。
FD(场脱附)
• 样品被施加到发射器上并直接引入系统中。
• 适用于热不稳定化合物的分析。
• 非常适合可溶于非极性溶剂的样品。
• 分析可分散在溶剂中的粉末样品。
• 分析低至中极性的金属错合物。
• 分析GC-MS不支持的高分子量样品,例如聚合物。
关键技术二:新一代分析软件可实现简单,快速的操作
■ 自动化图谱分析软件:MsFineAnalysis
可以直接比较两个相似的样本进行差异分析,对于制程管控、质量管理、竞品比对具有强大的分析功能!
msFineAnalysis的功能
• 自动结合EI / SI图谱数据进行定性分析
• 层析峰反折积(deconvolution)
• 组别分析提取具有常见次结构的化合物
• 直接比较两个样品光谱差异分析
• 亦可对单一EI图谱数据进行分析
► DEP (Direct Exposure Probe)
• 将溶解或分散在溶剂中的样品添加到尖端的细丝上
• 适用于高沸点和/或热不稳定化合物
• 与EI和CI兼容使用
► DIP (Direct Insertion Probe)
• 可以将固体样品引入玻璃样品管中。
• 适用于高沸点和/或不溶性化合物
• 与EI和CI兼容使用
► FDP (Field Desorption Probe)
• 将溶解或分散在溶剂中的样品施加到尖端的碳发射器上。
• 适用于高沸点,高分子量和/或热不稳定的化合物
• 适用于中低极性金属配合物
• 用于FD软性游离法
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