方案摘要
方案下载应用领域 | 石油/化工 |
检测样本 | 原油 |
检测项目 | 组成分析>烃族组成分析 |
参考标准 | JEOL JMS T2000 GC(高解析气相层析质谱仪) |
JEOL JMS T2000 GC(高解析气相层析质谱仪)可以在不打破真空的情况下通过使用EI/FI/FD(EI: 电子游离 / FI: 场游离 / FD: 场脱附)组合离子源来切换游离方法。
三种热分析仪器测试玻璃转移温度Tg的原理与差异-DSC/TMA/DMA测试PMMA为例
利用X-ray无破坏检测PCB上的通孔
绿光雷射剥离加工机应用在PI(聚酰亚胺)膜加工的3大优势
相关产品
HITACHI EA1400 X射线荧光光谱仪
Vanta Element Series 手持式XRF荧光光谱仪
VANTA M series 手持式XRF荧光光谱仪
JEOL DART-TOF 大气游离高解析质谱仪
JEOL JMS-T2000GC 高解析气相层析飞行时间质谱仪
JEOL TG-MS 热重质谱仪
HITACHI DSC 7020 差示扫描量热仪
HITACHI DMA7100 动态机械黏弹分析仪
TPPT可程控机器手臂触控面板测试仪
OptoFidelity FRM120 影像播放速率测试仪
GE Nanomex 奈米级超高分辨率检测系统
BH X|aminer 微焦点检测系统
JEOL JMS-S3000 MALDI-TOF 雷射辅助基质离子螺旋飞行质谱仪
HITACHI DSC 7000X 差示扫描量热仪
BH Microme|x NEO 160 穿透式影像检测系统
关注
拨打电话
留言咨询