日立高新场发射扫描电子显微镜SU8220观察太阳能薄膜电池

日立科学仪器（北京）有限公司

2013/09/18 10:10

铜铟镓硒薄膜太阳能电池板以其高转换率和低成本备受期待。由于各层的颗粒尺寸和层结构质量会影响发电表现，因此用SEM观察断面结构非常重要。

日立高新SU8200系列采用全新开发的冷场电子枪，实现超高分辨率下观察的同时，稳定的束流亦可满足长时间下的分析需求。该系列冷场发射扫描电镜（FE-SEM）中，有SU8220、SU8230、SU8240三款机型，并于今年5月20日起全球同步开始发售，日立高新使用SU8200系列场发射扫描电子显微镜观察了该太阳能电池断面。

详细信息请参考：http://www.instrument.com.cn/netshow/SH102446/down_249275.htm

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