方案摘要
方案下载| 应用领域 | 半导体 |
| 检测样本 | 集成电路 |
| 检测项目 | 化学性质>杂质含量 |
| 参考标准 | 颗粒物检测分析 |
近年，在半导体和电池材料的生产制造过程中产生的异物颗粒在诸多领域进行自动检测的需求增加了。因此，我们开发了一种软件“宏功能”，用于减少日常作业负担。
近年，在半导体和电池材料的生产制造过程中产生的异物颗粒在诸多领域进行自动检测的需求增加了。因此，我们开发了一种软件“宏功能”，用于减少日常作业负担。
文献贡献者
智能设备中光学材料的测定实例
使用标准积分球与全积分球测定透镜
通过UH4150测定微小尺寸的红外截止滤光片
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