方案摘要
方案下载应用领域 | 钢铁/金属 |
检测样本 | 其他 |
检测项目 | 含量分析>其他 |
参考标准 | 扫描电镜,台式电镜,台式扫描电镜,桌面扫描电镜,场发射电镜 |
Phenom ParticleX 以电镜法为基础,并搭配能谱仪,可以直观的获取颗粒的形状和成分信息。同时,通过自动移动拍照——自动颗粒识别——自动颗粒分析,可以在短时间分析大量颗粒,弥补了电镜法检测效率低的问题。
Phenom ParticleX 以电镜法为基础,并搭配能谱仪,可以直观的获取颗粒的形状和成分信息。同时,通过自动移动拍照——自动颗粒识别——自动颗粒分析,可以在短时间分析大量颗粒,弥补了电镜法检测效率低的问题。
应用案例
按粒径进行统计:
对供应商 A(a,b)和供应商 B(c,d)Ti-6Al-4V 粉末使用扫描电镜获得的二次电子图像及对应的颗粒粒度分布。
ParticleX 可以测量每个颗粒的最大直径、最小直径、周长和形状等。
Phenom ParticleX 可自动分析粉末,无需人员值守且可连续运行。在自动特征分析 (AFA)模式下,用户可以在几分钟内对庞大的颗粒或夹杂物数据集进行分类,进而帮助优化过程控制。
每个颗粒都分别分析并存储相应的数据。利用颗粒查看器,用户可以轻松地对单个颗粒重新查看进行更深入的分析或成像。
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