资料摘要
资料下载随着技术的发展，光学薄膜的光学性能也在厂家的不断提高，市场需要更高端的产品，其中在液晶面板吃起的成产中，也液晶贴的的一层膜的配向角度的优良很大程度上影响生产出来的液晶面板的显示效果的好坏。关于如何了解这一层配向膜（PI）的配向角度，研发人员一直没有合适设备来测量， 近期，日本的phl厂家带来一款通过测量双折射的方法来检测配向角度的设备。
文献贡献者
应力双折射最新产品型录
简介：透明材料应力双折射测量系统
白光激光共聚焦显微镜型录
简介：日本Lasertec公司推出了Optelics混合共焦显微镜,将激光和白光源组合在一体,用于多功能高性能共聚显微镜.两组共焦光学器件与附加器件相结合,包括干涉仪,微分干涉对比观察和光谱反射膜厚度测量仪.
应力双折射说明书
简介：主要介绍应力双折射系统的技术原理及参数，让读者了解检测透明材料的应力双折射方法，给研发者和工艺工程师一些启发。
6寸半自动划片机NANO150G
简介：新型的适用于6寸片的划片设备，内建主轴冷却水循环系统，创新真空系统。采用新型的vcs测高比传统的光电传感器测高缩短5倍的时间，大大的提升了工作效率。
研磨砂轮
简介：用于硅晶圆和蓝宝石的薄化工艺，硅晶圆薄化过程中与湿式抛光结合，出去表面破坏层及砂轮加工所衍生的残留应力，提供产业界对于提升晶圆薄化的技术，获取良好的成效。
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PHL应力双折射仪 PA-200
PHL偏振相机 PI-110
PL光子晶体波片
PHL膜厚测试仪/椭偏仪SE-101
Adamand Namiki 光干涉内周面测量仪 NMH-01
Lasertec激光白光混合共聚焦显微镜系统HYBRIO
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Photonic Lattice显微应力双折射分析仪 PA-Micro
Micro Support微区取样器AXIS Pro
ARMS SYSTEM无掩模光刻机/直写光刻机UTA-IA
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