第23届CIOE中国光博会将于2021年9月16 - 18日在深圳会展中心举办,欧屹科技将会在3号展馆,展位号:3D60,欢迎新老客户、业界专家大佬、老师同学莅临指导交流。
北京欧屹科技有限公司将会展出:双折射测量仪,应力测量仪,白光+激光共聚焦显微镜,激光干涉内径测量仪,奈米级三维形貌仪、无掩膜光刻机等精密光学仪器。
展品介绍:
1, 应力测量仪
来自日本PHL公司的PA和WPA系列双折射应力测量仪,业内市场占有率超过70%。其中PA系列,广泛应用于玻璃、各种镜头、人工晶体、SIC、蓝宝石,晶圆等透明或半透明内部缺陷,双折射变化,内部应力分布的测量。WPA系列,高达0-3500nm相位差范围,几乎适用于所有的透明半透明样品的双折射应力测量,特别是 高分子材料,注塑成型制品,薄膜(位相膜)应用广泛,测量数据准确,软件功能强,使用方便快捷。
2, 白光+激光共聚焦显微镜
日本的Lasertec公司的激光+白光共聚焦显微镜是白光&激光共聚焦融合,实现一般激光(白光)共聚焦显微镜无法实现的高性能与多功能,以双共聚焦光学系为基础,搭载微分干涉观察,垂直白光干涉测定,相差干涉测定,反射分光膜厚测量等功能,通常多台设备才能完成的测量,仅需我们的一台设备就可实现。仪器特点:高放大倍数,高分辨率,高对比度,纳米级异物或损伤的可视化,纳米级透明膜的厚度测量,埃米级型状测试,数毫米宽视野范围纳米型状测量。
3, 激光干涉内径测量仪
Adamand Namiki开发了NMH-01通过微电机和专利的光学成像探头,利用光学干涉实现内型面的测量,内径测量最小可达1.1mm,同时测量内径、真圆度、内型表面粗糙度和形貌。
4, 无掩膜光刻机
无掩膜光刻机UTA系列是将DLP投影仪盒金相显微镜相结合的缩小投影型无掩模曝光系统,其价格低于传统系统(用于掩膜光刻的图案投影曝光系统) 可以使用专门为此目的开发的软件来创建想要的图案。
新品发布-VR镜头专用应力双折射测量设备
新一代全检膜厚mapping椭偏仪ME-210-T
光博会延期通告
lasertec共聚焦显微镜的白光共聚焦功能介绍
相关产品
PHL应力双折射测试仪
PHL双折射应力仪WPA-Micro
PHL显微型应力双折射仪
应力双折射测试仪器WPA-200,WPA-200-L
PHL应力双折射仪 PA-200
PHL偏振相机 PI-110
PL光子晶体波片
PHL膜厚测试仪/椭偏仪SE-101
Adamand Namiki 光干涉内周面测量仪 NMH-01
Lasertec激光白光混合共聚焦显微镜系统HYBRIO
蓝宝石专用双折射测量仪
球坑测厚仪
Photonic Lattice显微应力双折射分析仪 PA-Micro
Micro Support微区取样器AXIS Pro
ARMS SYSTEM无掩模光刻机/直写光刻机UTA-IA
关注
拨打电话
留言咨询