型号: | ARMV734/735 |
产地: | 日本 |
品牌: | 日本分光计器 |
评分: |
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应用领域: |
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▼概要
自动绝对反射率测量装置一边变化照到样品的入射角,一边测量反射率以及透过。用于太阳能电池零件,半导体,薄膜,光学元件等各种固体样品的分光特性或者膜厚等的测量。入射角通过旋转样品台设定,受光角通过滑动积分球控制。另外,能用非同步方式分别设定入射角和受光角。而且,根据任意设定P偏光和S偏光角度,能研究样品的偏光特性。
可选择用在紧凑的中型机种V-600系列紫外可见近红外分光光度計上,也可以选择用在适合高分辨率,高吸光度测量的V-7000系列紫外可见近红外分光光度计上。
◆装置特点
?PC直接控制设定角度及光谱测量等条件
?测量范围广,从紫外到近红外区域
?双光束光学系统,测光稳定性好
?可分别控制入射角、受光角
?标配偏光测量功能
?专用的样品池支架,样品的装卸简单
◆规格
▼ARMV-734/ARMN-735 自动绝对反射率测量组件(V-600用)
型号 | ARMV-734 | ARMN-735 |
测定波长范围 | 250~850nm | 250~2000nm |
测量方式 | 测量绝对反射率、测量透过率 | |
入射角 | 5°~ 60°(测量绝对反射率)、0°~ 60°(测量透过) 0 ~ 85℃(大入射角样品支架、选项) | |
角度间隔 | 0.1°间隔 | |
设定方式 | 同期、非同期(入射部和受光部) | |
测量偏光 | S 偏光( 0°)、P 偏光( 90°)、N 偏光( 45°)、任意设定 |
※ARMV-734用于V-650,660、ARMN-735用于V-670。
▼VAR-7010/7020/7030 自动绝对反射率测量组件(V-7000用)
型号 | VAR-7010 | VAR-7020 | VAR-7030 |
测量波长范围 | 250~900nm | 250~2000nm | 250~1800nm |
测定方式 | 测量绝对反射率、测量透过率 | ||
入射角 | 5°~ 60°(测量绝对反射率)、0°~ 60°(测量透过) 0 ~ 85℃(大入射角样品支架、选项) | ||
角度間隔 | 0.1°间隔 | ||
设定方式 | 同期、非同期(入射部和受光部) | ||
测量偏光 | S 偏光( 0°)、P 偏光( 90°)、N 偏光( 45°) |
※VAR-7010用于V-7100、VAR-7020用于V-7200、 VAR-7030用于V-7300。
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