谱育科技EXPEC 6000测定硅材料中多种元素

2020/05/19   下载量： 1 次

方案摘要

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应用领域 材料
检测样本 光电材料
检测项目
参考标准 YB/T 4590-2017

采用EXPEC 6000测定硅材料中Al、B、Ca、Fe、P、Ni、Mn、Ti8种元素含量，通过对杂质含量不同的2种硅材料样品的测量，并计算检出限和方法精密度，考察EXPEC 6000在硅材料样品中的实际分析性能。结果表明：每种样品平行2次消解并测量的相对相差均小于6%，EXPEC 6000可用于硅材料样品中难电离元素B、P及金属元素的分析检测。

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本文采用氢氟酸等混合酸低温湿法消解硅材料样品，随后使用EXPEC 6000对该样品中Al、B、Ca、Fe、Ni、Mn、P、Ti 8种有害杂质元素进行测定， 并考察了仪器检出限和方法的精密度。

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杭州谱育科技发展有限公司
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