方案摘要
方案下载应用领域 | 航空航天 |
检测样本 | 航空 |
检测项目 | |
参考标准 | GB/T 4734-1996 |
湿法消解和微波消解易造成硅的损失,且HF的引入会提高对仪器的成本,不适合于陶瓷样品中硅的测量,本方法采用碱熔法消解特种陶瓷样品,并用电感耦合等离子体发射光谱分析特种陶瓷中硅和锆的含量,方法精密度高,检出限低,硅的加标回收率达98.97%,是一种简单易操作、低成本的测量方法。
特种陶瓷具有高硬度、耐腐蚀等特殊性能,因此消解比较困难,常见的消解方法如湿法消解和微波消解虽然能使样品完全消解,但这些方法消解陶瓷样品时必须用到氢氟酸或四氟硼酸,形成的SiF4易挥发,造成硅的损失,不适合用于陶瓷中硅的测量。本方法采用碱熔法消解样品,成功避免了硅的损失,测量了特种陶瓷中硅。
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