型号: | NPFLEX 3D |
产地: | 美国 |
品牌: | 布鲁克 |
评分: |
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产品简介:
布鲁克的NPFLEXTM 3D表面测量系统为精密制造业带来前所未有的检测能力,实现更快的测量时间,提高了产品质量和生产力。基于白光干涉的原理,这套非接触系统提供的技术性能超出了传统的的接触式坐标测量仪(CMM)和工业级探针式轮廓仪的测量技术。测量优势包括获得高分辨的三维图像,进行快速丰富的数据采集,帮助用户更深入地了解部件的性能和功能。积累几十年的干涉技术和大样本的仪器设计的经验,NPFLEXTM是第一个可以灵活地测量大尺寸样品的光学测量系统,而且能够高效快捷地获得从微观到宏观等不同方面的样品信息。
产品特点:
灵活性好,可用于测量表征更大的面型和更难测的角度样品
创新性的空间设计使得可测零件(样品)更大,形状更多
开放式龙门、客户定制的夹具和可选的摇摆测量头可轻松测量想测部位
高校的三维表面信息测量
每次测量均可获得完整表面信息,并用于多种分析目的
更容易获得更多的测量数据来帮助分析
垂直方向纳米分辨率提供更多的细节
干涉技术实现每一个测量像素点上的亚纳米级别垂直分辨率
工业界使用多年已验证的干涉技术提供具有统计意义的数据,为日渐苛刻的加工工艺提供保障
测量数据的快速获取保证了测试的迅速和高效
最少的样品准备时间和测量准备时间
比接触法测量(一条线)更大的现场(一个面)获得表面更多的数据
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