光-电联用显微镜法（CLEM）系统

光-电联用显微镜法（CLEM）系统

参考价：¥100万 - 200万
型号： CLEM
产地： 日本
品牌： 日立
评分：
核心参数
似空科学仪器（上海）有限公司
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1:

  • CLEM (Correlative light and electron microscopy)：光学显微镜和电子显微镜的联用观察显微镜法



特色
MirrorCLEM是搭配FE-SEM，迅速并准确支援CLEM解析的系统。
使用此系统，在光学显微镜下从低倍率到高倍率清晰观察树脂切片目标结构后，让观察位置与FE-SEM样品台坐标信息同步，通过控制马达台在FE-SEM上可观察同一位置。
此外，还可实时显示光学显微镜和FE-SEM的叠加图像。

似空科学仪器（上海）有限公司为您提供日立光-电联用显微镜法（CLEM）系统，日立CLEM产地为日本，属于透射电子显微镜（透射电镜、TEM），除了光-电联用显微镜法（CLEM）系统的参数、价格、型号、原理等信息外，还可为您提供更多透射电子显微镜（透射电镜、TEM）,似空科仪客服电话400-860-5168转4452，售前、售后均可联系。

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