JIACO等离子芯片开封机MIP
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JIACO等离子芯片开封机MIP

参考价:面议
型号: JIACO MIP
产地: 荷兰
品牌: JIACO
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JIACO 仪器公司的微波诱导等离子(MIP)芯片开封系统是一款具有突破性的创新产品,可在非抽真空的常规气压下,采用氧气和专利的氢气方案自动完成芯片开封过程,包含全自动的超声波清洗步骤,唯一不损伤银线的芯片开封技术。


 

 

微波诱导等离子芯片开封系统(JIACO-MIP)

 

  
可靠的集成电路封装开封技术
 
JIACO 仪器公司的微波诱导等离子(MIP)芯片开封系统是一款具有突破性的创新产品,可在非抽真空的常规气压下,采用氧气和专利的氢气方案自动完成芯片开封过程,包含全自动的超声波清洗步骤。
 
设备适用于开封包含 Cu、PCC、Ag 等引线的各类先进芯片封装形式,包括 ED、 SiP、WLCSP、BOAC 等,开封过程对芯片不会造成任何损伤,为集成电路芯片的可靠性和失效分析提供了一种极佳的方案。
  

 

JIACO-MIP 失效分析和质量控制的应用

 

1、 键合线(Wire bond):
 银线(Ag)
 铜线、复合型胶凝材料、金线、 铝线(Cu,PCC,Au,Al)
 常规或经过老化测试的样品
2、 倒装芯片(Flip Chip)
 重布线层(RDL)
 铜柱(Cu Pillar)、焊锡凸块(Solder Bump)
 扇入型和扇出型 WLP
 
3、 芯片
 BOAC
 SAW、BAW
 砷 化 镓 芯 片 、 氮 化 镓 芯 片 GaAs,GaN
 
4、 封装
 2.5D / 3D
 SiP、CoWoS
 Chip on Board
 
5、 封装材料
 High Tg
 Glob Top
 Underfill、DAF、FOW
 Clear Mold, Die Coat
 
 
6、 FA 类型
 电气过应力(EOS)
 迁移(Migration)
 腐蚀(Corrosion)
 杂质污染(Contamination)
 

 

 









等离子开封
 开封过程不造成损伤
 保留表面特征
 保留原始污染杂质和失效点
  
化学开封
 会减小导线直径
 会减小机械强度
 会腐蚀铜线和铝质焊盘

 

用于可靠性测试和失效分析的开封技术

 

 

 

 
银线 IC 封装的等离子开封
对银线、银质球焊接头、接合焊盘、钝化层和芯片不造成损伤

 

 

 

 

 

 

 

 

 
MIP 等离子开封
+   只使用氧气和专利的氢气配方,对钝化层和芯
     片不造成损伤
+   减少 70%开封时间
+   全自动开封过程
+   完全保留原始污染杂质和失效点
+   常规气压,减少维修和维护成本
 
 
传统等离子开封
+   CF4 刻蚀对钝化层和芯片会造成损伤
+   虽然添加 CF4,但开封时间依然较长
+   需手动清洗每个蚀刻操作步骤所产生的无机杂质
+   可能导致原始污染杂质和失效点会被消除
+   真空系统,维修和维护成本较高
  

 

 

 

适用于可靠性测试和失效分析的开封技术

 

 

 



似空科学仪器(上海)有限公司为您提供JIACO等离子芯片开封机MIPJIACO MIP,JIACOJIACO MIP产地为荷兰,属于微波等离子体光谱仪(MPT、MIP),除了JIACO等离子芯片开封机MIP的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供激光芯片开封机 SMART ETCH II、激光芯片开封机 GLOBAL ETCH II、激光芯片开封机 SMART ETCH UV,似空科仪客服电话400-860-5168转4452,售前、售后均可联系。

售后服务
  • 产品货期: 90天
  • 培训服务: 安装调试现场免费培训;提供付费培训
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