型号: | 聚焦离子束(Xe)扫描电镜 FERA -XM |
产地: | 捷克 |
品牌: | 泰思肯 |
评分: |
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聚焦离子束(Xe)扫描电镜 FERA
FERA3 XM是一款由计算机全控制的Xe等离子聚焦离子束(i-FIB)场发射扫描电子显微镜,可选配气体注入系统 (GIS),可在高真空和低真空模式下工作,其具有突出的光学性能、清晰的数字化图像、成熟和用户界面友好的SEM/FIB/GIS操作软件等特点。基于Windows™平台的操作软件提供了简易的电镜操作和图像采集,可以保存标准文件格式的图片,可以对图像进行管理、处理和测量,实现了电镜的自动设置和许多其它自动操作。
· 概述
· 软件
· 技术规格
· 配件
· 图片
· 其他
· 高亮度肖特基发射可获得高分辨率,高电流和低噪声的图像
· 选配的In-Beam二次电子探头可获取超高分辨率图像
· 三透镜大视野观察(Wide Field Optics™)设计提供了多种工作模式和显示模式,体现了TESCAN特有可优化电子束光阑的中间镜设计
· 结合了完善的电子光学设计软件的实时电子束追踪(In-Flight Beam Tracing™)可模拟和进行束斑优化
· 成像速度快
· 低电压下的电子束减速模式(Beam Deceleration Technology – BDT)可获取高分辨率图像(选配)
· In-Beam背散射电子探头,用于在小工作距离下得BSE图像(选配),甚至适合铁磁性样品
· 全计算机化优中心电动载台设计优化了样品操控
· 完美的几何设计更适合安装能谱仪(EDX)、波谱仪(WDX)、背散射电子衍射仪(EBSD)
· 由于使用了强力的涡沦分子泵和干式前置真空泵,因而可以很快达到电镜的工作真空。电子枪的真空由离子泵维持。
· 自动的电子光路设置和合轴
· 网络操作和内置的远程控制/诊断软件
· 3维电子束技术提供实时立体图像
· 低真空模式下样品室真空可达到500Pa用于观测不导电样品
· 独特的离子差异泵(2个离子泵)使得离子散射效应超低
· 聚焦离子束镜筒内有马达驱动高重复性光阑转换器
· 聚焦离子束的标配包括了电子束遮没装置和法拉第筒
· 高束流下超高的铣削速度和卓越的性能
· FIB切割、信号采集、3维重构(断层摄影术),3D EBSD、3D EBIC与集成3维可视化
· 成熟的SEM/FIB/GIS操作软件,图像采集、存档、处理和分析功能
FERA3 XMH
是一款完全由计算机控制的Xe等离子聚焦离子束(i-FIB)场发射扫描电子显微镜,可选配气体注入系统(GIS),在真空模式下工作。
FERA3 XMU
是一款完全由计算机控制的Xe等离子聚焦离子束(i-FIB)场发射扫描电子显微镜,可选配气体注入系统(GIS),可在高真空和低真空模式下工作。
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