CAMTEK 自动AOI设备 碳化硅(SiC) 应用
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CAMTEK 自动AOI设备 碳化硅(SiC) 应用

参考价：面议
型号： CAMTEK 自动光学检验AOI设备 在 碳化硅(SiC) 领域的应用
产地： 以色列
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北京亚科晨旭科技有限公司
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CAMTEK  自动光学检验AOI设备 在 碳化硅(SiC) 领域的应用

碳化硅碳化硅晶片是未来一代半导体材料,具有独特的电学性能和优异的热性能。 与硅片和砷化镓晶片相比,碳化硅晶片更适合高温和高功率设备应用程序。
Camtek开发专用的检验和计量解决方案,以及分析工具来解决这一新兴市场。

功能

•处理透明材料区域使用黑暗查克在晶片上
•背光查克的早期阶段的过程
•朋友处理透明的晶片
•eef——边缘控制能力
•自动缺陷分类(ADC)基于收益管理的深度学习
•弓测量
•预测收益率-晶圆缺陷位置精度< 2um

技术

•sts -表面形貌传感器
•背光

 

产品

 

EagleT-AP

为先进的包装设计市场,EagleT-AP提供了2 d和3 d检验和计量在同一平台上,同时保持极高的性能和吞吐量水平。

 

EagleT-i

设计的速度和准确性,Camtek EagleT-i是一个最快的和最精确的2 d检查工具在市场上。

 

 



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